Norma DIN EN 62047-18:2014-04 1.4.2014 náhled

DIN EN 62047-18:2014-04

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials.

Automaticky přeložený název:

Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 18: Metoda zkoušení ohybu tenkovrstvých materiálů..



NORMA vydána dne 1.4.2014


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1 975.50 bez DPH
1 975.50

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 62047-18:2014-04
Datum vydání normy: 1.4.2014
Kód zboží: NS-239566
Počet stran: 15
Přibližná hmotnost: 45 g (0.10 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 62047-18:2014-04 :

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 18: Biegeprüfverfahren für Dünnschichtwerkstoffe.

Doporučujeme:


Tento web používá soubory cookie. Dalším procházením tohoto webu vyjadřujete souhlas s jejich používáním. Více informací / Rozumím