DIN EN 60749-1:2003-12

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General.

NORMA vydána dne 1.12.2003

Německy -
PDF - okamžité stažení (1307.40 CZK)

Německy -

Tištěné (1577.60 CZK)

Německy -

CD-ROM (1344.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 60749-1:2003-12
Datum vydání normy: 1.12.2003
Počet stran: 10
Přibližná hmotnost: 30 g (0.07 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 60749-1:2003-12 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 1: Allgemeines.