Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Normy DIN - Německé národní normy - strana 16627

DIN - je chráněné označení německých národních technických norem.

Zobrazení ceny: bez DPH

Zobrazovaná měna: Kč

Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy DIN - strana 16627" dle:

Zadejte číslo normy nebo text, který hledáte:

Roku vydání

Platné (40214)

Neplatné (158905)

Náhled E DIN EN 60749-43:2013-10 1.10.2013

E DIN EN 60749-43:2013-10 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plan.

NEPLATNÁ vydána dne 1.10.2013

Vybrané provedení:

Anglicky a německy -

Elektronické PDF (3096.50 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

3 096.50 Kč

do 7 pracovních dnů

DIN EN 60749-43:2018-05 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 43: Pokyny pro kvalifikační plány spolehlivosti integrovaných obvodů (IC). .)

NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2018

Vybrané provedení:

Německy -

PDF - okamžité stažení (3096.50 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

3 096.50 Kč

SKLADEM

Náhled E DIN EN 60749-44:2014-08 1.8.2014

E DIN EN 60749-44:2014-08 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices.

NEPLATNÁ vydána dne 1.8.2014

Vybrané provedení:

Anglicky a německy -

Elektronické PDF (2545.90 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

2 545.90 Kč

do 7 pracovních dnů

Náhled E DIN EN 60749-5:2002-06 1.6.2002

E DIN EN 60749-5:2002-06 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady state temperature humidity bias life test.

NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2002

Vybrané provedení:

Anglicky a německy -

Elektronické PDF (1178.30 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 178.30 Kč

do 7 pracovních dnů

DIN EN 60749-5:2003-09 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 5: Zkouška životnosti konstantní teplotou a vlhkostí při elektrické polarizaci. .)

NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2003

Vybrané provedení:

Německy -

PDF - okamžité stažení (1356.50 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 356.50 Kč

SKLADEM

Náhled E DIN EN 60749-5:2016-12 1.12.2016

E DIN EN 60749-5:2016-12 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.

NEPLATNÁ vydána dne 1.12.2016

Vybrané provedení:

Německy -

Elektronické PDF (1528.00 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 528.00 Kč

do 7 pracovních dnů

DIN EN 60749-5:2018-01 NEPLATNÁ

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2018

Vybrané provedení:

Německy -

PDF - okamžité stažení (1864.40 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 864.40 Kč

SKLADEM

Náhled E DIN EN IEC 60749-5:2024-04 1.4.2024

E DIN EN IEC 60749-5:2024-04 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.

NEPLATNÁ vydána dne 1.4.2024

Vybrané provedení:

Anglicky a německy -

Elektronické PDF (1688.30 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 688.30 Kč

do 7 pracovních dnů

DIN EN 60749-6:2003-04 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 6: Skladování při vysoké teplotě. (Text normy není součástí výtisku)..)

NEPLATNÁ vydána dne 1.4.2003

Vybrané provedení:

Německy -

PDF - okamžité stažení (1009.00 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 009.00 Kč

SKLADEM