Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 396
IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.
Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Kč
Řadit dle:
IEC 60749-24-ed.2.0-RLV
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
Norma vydána dne 27.11.2025
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-25-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 25: Cycles de temperature)
Norma vydána dne 11.7.2003
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-26-ed.5.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 26: Essai de sensibilite aux decharges electrostatiques (DES) - Modele du corps humain (HBM))
Norma vydána dne 23.12.2025
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-26-ed.5.0-CMV
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Norma vydána dne 23.12.2025
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-27-ed.2.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 27: Essai de sensibilite aux decharges electrostatiques (DES) - Modele de machine (MM))
Norma vydána dne 18.7.2006
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-27-ed.2.0/Amd.1
Změna
Zobrazit všechny technické informace
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
(Amendement 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 27: Essai de sensibilite aux decharges electrostatiques (DES) - Modele de machine (MM))
Změna vydána dne 25.9.2012
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-27-ed.2.1+Amd.1-CSV
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques etclimatiques - Partie 27: Essai de sensibilite aux decharges electrostatiques (DES) - Modele de machine (MM))
Norma vydána dne 25.9.2012
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-28-ed.2.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d’essai mecaniques et climatiques - Partie 28: Essai de sensibilite aux decharges electrostatiques (DES) - Modele de dispositif charge (CDM) - niveau du dispositif)
Norma vydána dne 1.3.2022
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-28-ed.2.0-RLV
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
Norma vydána dne 1.3.2022
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-29-ed.2.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essai mecaniques et climatiques - Partie 29: Essai de verrouillage)
Norma vydána dne 7.4.2011
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Potřebujete pomoci?
