Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 31: hořlavosti plastových zapouzdřené zařízení (interně indukované)
NORMA vydána dne 30.8.2002
Označení normy: IEC 60749-31-ed.1.0
Datum vydání normy: 30.8.2002
Kód zboží: NS-411402
Počet stran: 9
Přibližná hmotnost: 27 g (0.06 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), this test determines whether the device ignites due to internal heating caused by excessive overloads. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy. Applicable aux dispositifs a semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits integres), cet essai determine si le dispositif prend feu par suite dun echauffement interne du a des surcharges excessives. Le contenu du corrigendum daout 2003 a ete pris en consideration dans cet exemplaire.
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 31: Inflammabilite des dispositifs a encapsulation plastique (cas d´une cause interne d´inflammation))
Oprava vydána dne 13.8.2003
Vybrané provedení:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
Poslední aktualizace: 26.01.2026 (Počet položek: 2 257 479)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.