Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 395

IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.

Zobrazení ceny: bez DPH

Zobrazovaná měna: Kč

Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy IEC - strana 395" dle:

Zadejte číslo normy nebo text, který hledáte:

Roku vydání

Platné (11394)

Neplatné (0)

IEC 60749-26-ed.5.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 26: Essai de sensibilite aux decharges electrostatiques (DES) - Modele du corps humain (HBM))

Norma vydána dne 23.12.2025

Vybrané provedení:

Anglicky -

Elektronické PDF (10612.80 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

10 612.80 Kč

SKLADEM

IEC 60749-26-ed.5.0-CMV

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

Norma vydána dne 23.12.2025

Vybrané provedení:

Anglicky -

Elektronické PDF (21225.60 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

21 225.60 Kč

SKLADEM

IEC 60749-27-ed.2.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 27: Essai de sensibilite aux decharges electrostatiques (DES) - Modele de machine (MM))

Norma vydána dne 18.7.2006

Vybrané provedení:

Anglicky a francouzsky -

Elektronické PDF (2534.40 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

2 534.40 Kč

Objednat včetně změn

SKLADEM

Náhled IEC 60749-27-ed.2.0/Amd.1 25.9.2012

IEC 60749-27-ed.2.0/Amd.1 Změna

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
(Amendement 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 27: Essai de sensibilite aux decharges electrostatiques (DES) - Modele de machine (MM))

Změna vydána dne 25.9.2012

Vybrané provedení:

Anglicky a francouzsky -

Elektronické PDF (316.80 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

316.80 Kč

SKLADEM

IEC 60749-27-ed.2.1+Amd.1-CSV

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques etclimatiques - Partie 27: Essai de sensibilite aux decharges electrostatiques (DES) - Modele de machine (MM))

Norma vydána dne 25.9.2012

Vybrané provedení:

Anglicky a francouzsky -

Elektronické PDF (4910.40 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

4 910.40 Kč

SKLADEM

IEC 60749-28-ed.2.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d’essai mecaniques et climatiques - Partie 28: Essai de sensibilite aux decharges electrostatiques (DES) - Modele de dispositif charge (CDM) - niveau du dispositif)

Norma vydána dne 1.3.2022

Vybrané provedení:

Anglicky a francouzsky -

Elektronické PDF (9345.60 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

9 345.60 Kč

SKLADEM

IEC 60749-28-ed.2.0-RLV

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

Norma vydána dne 1.3.2022

Vybrané provedení:

Anglicky -

Elektronické PDF (15903.40 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

15 903.40 Kč

SKLADEM

IEC 60749-29-ed.2.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essai mecaniques et climatiques - Partie 29: Essai de verrouillage)

Norma vydána dne 7.4.2011

Vybrané provedení:

Anglicky a francouzsky -

Elektronické PDF (5068.80 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

5 068.80 Kč

SKLADEM

IEC 60749-3-ed.2.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 3: Examen visuel externe)

Norma vydána dne 3.3.2017

Vybrané provedení:

Anglicky -

Elektronické PDF (1267.20 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 267.20 Kč

SKLADEM

IEC 60749-30-ed.2.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 30: Preconditionnement des composants pour montage en surface non hermetiques avant les essais de fiabilite)

Norma vydána dne 17.8.2020

Vybrané provedení:

Anglicky a francouzsky -

Elektronické PDF (2534.40 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

2 534.40 Kč

SKLADEM

Zobrazen záznam od 3940 až 3950 z celkem 11394 záznamů.