Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 393

IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.

Zobrazení ceny: bez DPH

Zobrazovaná měna: Kč

Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy IEC - strana 393" dle:

Zadejte číslo normy nebo text, který hledáte:

Roku vydání

Platné (11501)

Neplatné (0)

IEC 60749-13-ed.2.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
(Dispositifs a seminconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 13: Atmosphere saline)

Norma vydána dne 15.2.2018

Vybrané provedení:

Anglicky a francouzsky -

Elektronické PDF (2549.20 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

2 549.20 Kč

SKLADEM

IEC 60749-14-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 14: Robustesse des sorties (integrite des connexions))

Norma vydána dne 7.8.2003

Vybrané provedení:

Španělsky -

Elektronické PDF (2549.20 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

2 549.20 Kč

SKLADEM

IEC 60749-15-ed.3.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 15: Resistance a la temperature de brasage pour dispositifs par trous traversants)

Norma vydána dne 14.7.2020

Vybrané provedení:

Anglicky a francouzsky -

Elektronické PDF (1274.60 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 274.60 Kč

SKLADEM

IEC 60749-15-ed.3.0-RLV

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices

Norma vydána dne 14.7.2020

Vybrané provedení:

Anglicky -

Elektronické PDF (2166.80 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

2 166.80 Kč

SKLADEM

IEC 60749-16-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 16: Detection de bruit d´impact de particules (PIND))

Norma vydána dne 17.1.2003

Vybrané provedení:

Španělsky -

Elektronické PDF (637.30 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

637.30 Kč

SKLADEM

IEC 60749-17-ed.2.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 17: Irradiation aux neutrons)

Norma vydána dne 28.3.2019

Vybrané provedení:

Anglicky a francouzsky -

Elektronické PDF (1274.60 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

1 274.60 Kč

SKLADEM

IEC 60749-18-ed.2.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 18: Rayonnements ionisants (dose totale))

Norma vydána dne 10.4.2019

Vybrané provedení:

Anglicky a francouzsky -

Elektronické PDF (5098.40 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

5 098.40 Kč

SKLADEM

IEC 60749-18-ed.2.0-RLV

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)

Norma vydána dne 10.4.2019

Vybrané provedení:

Anglicky -

Elektronické PDF (8667.20 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

8 667.20 Kč

SKLADEM

IEC 60749-19-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 19: Resistance de la pastille au cisaillement)

Norma vydána dne 13.2.2003

Vybrané provedení:

Španělsky -

Elektronické PDF (637.30 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

637.30 Kč

Objednat včetně změn

SKLADEM

Náhled IEC 60749-19-ed.1.0/Amd.1 28.7.2010

IEC 60749-19-ed.1.0/Amd.1 Změna

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
(Amendement 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 19: Resistance de la pastille au cisaillement)

Změna vydána dne 28.7.2010

Vybrané provedení:

Španělsky -

Elektronické PDF (318.60 CZK)

Zobrazit všechny technické informace

318.60 Kč

SKLADEM

Zobrazen záznam od 3920 až 3930 z celkem 11501 záznamů.