Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 392
IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.
Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Kč
Řadit dle:
IEC 60749-11-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de temperature - Methode des deux bains)
Norma vydána dne 12.4.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-11-ed.1.0/Cor.1
Oprava
Zobrazit všechny technické informace
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de temperature - Methode des deux bains)
Oprava vydána dne 30.1.2003
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-11-ed.1.0/Cor.2
Oprava
Zobrazit všechny technické informace
Corrigendum 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
(Corrigendum 2 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de temperature - Methode des deux bains)
Oprava vydána dne 13.8.2003
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-12-ed.2.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 12: Vibrations, frequences variables)
Norma vydána dne 13.12.2017
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-13-ed.2.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
(Dispositifs a seminconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 13: Atmosphere saline)
Norma vydána dne 15.2.2018
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-14-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 14: Robustesse des sorties (integrite des connexions))
Norma vydána dne 7.8.2003
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-15-ed.3.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 15: Resistance a la temperature de brasage pour dispositifs par trous traversants)
Norma vydána dne 14.7.2020
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-15-ed.3.0-RLV
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
Norma vydána dne 14.7.2020
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-16-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 16: Detection de bruit d´impact de particules (PIND))
Norma vydána dne 17.1.2003
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-17-ed.2.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 17: Irradiation aux neutrons)
Norma vydána dne 28.3.2019
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Potřebujete pomoci?
