IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 392

Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 392

IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy IEC - strana 392" dle:    


IEC 60748-4-3-ed.1.0

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4-3: Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)

Norma vydána dne 29.8.2006

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
8 284.80


SKLADEM
IEC 60748-4-ed.2.0

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4: Interface integrated circuits
(Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Partie 4: Circuits integres d´interface)

Norma vydána dne 23.4.1997

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
15 135.80


SKLADEM
IEC 60748-5-ed.1.0

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 5: Semicustom integrated circuits
(Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Partie 5: Circuits integres semi-personnalises)

Norma vydána dne 30.5.1997

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
5 098.40


SKLADEM
IEC 60749-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 1: Generalites)

Norma vydána dne 30.8.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
637.30


SKLADEM
IEC 60749-1-ed.1.0/Cor.1 Oprava

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 1: Generalites)

Oprava vydána dne 12.8.2003

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
31.90


SKLADEM
IEC 60749-10-ed.2.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - device and subassembly
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d’essais mecaniques et climatiques - Partie 10: Chocs mecaniques - Dispositif et sous-ensemble)

Norma vydána dne 27.4.2022

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 549.20


SKLADEM
IEC 60749-11-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de temperature - Methode des deux bains)

Norma vydána dne 12.4.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
637.30


SKLADEM
IEC 60749-11-ed.1.0/Cor.1 Oprava

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de temperature - Methode des deux bains)

Oprava vydána dne 30.1.2003

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
31.90


SKLADEM
IEC 60749-11-ed.1.0/Cor.2 Oprava

Corrigendum 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
(Corrigendum 2 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de temperature - Methode des deux bains)

Oprava vydána dne 13.8.2003

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
31.90


SKLADEM
IEC 60749-12-ed.2.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 12: Vibrations, frequences variables)

Norma vydána dne 13.12.2017

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
637.30


SKLADEM

Zobrazen záznam od 3910 až 3920 z celkem 11501 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.