IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 392

Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 392

IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy IEC - strana 392" dle:    


IEC 60748-3-ed.1.0

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 3: Analogue integrated circuits
(Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Partie 3: Circuits integres analogiques)

Norma vydána dne 1.1.1986

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
13 951.10


SKLADEM
IEC 60748-3-ed.1.0/Amd.1 Změna

Amendment 1 - Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 3: Analogue integrated circuits
(Amendement 1 - Dispositifs a semiconducteurs. Circuits integres. Troisieme partie: Circuits integres analogiques)

Změna vydána dne 15.11.1991

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
8 435.50


SKLADEM
IEC 60748-3-ed.1.0/Amd.2 Změna

Amendment 2 - Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 3: Analogue integrated circuits
(Amendement 2 - Dispositifs a semiconducteurs. Circuits integres. Troisieme partie: Circuits integres analogiques)

Změna vydána dne 8.2.1994

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 595.60


SKLADEM
IEC 60748-3-ed.1.0/Amd.2/Cor.1 Oprava

Corrigendum 1 to Amendment 2 - Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 3: Analogue integrated circuits
(Corrigendum 1 a l´amendement 2 - Dispositifs a semiconducteurs. Circuits integres. Troisieme partie: Circuits integres analogiques)

Oprava vydána dne 11.6.1996

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
32.40


SKLADEM
IEC 60748-4-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4: Interface integrated circuits - Section 1: Blank detail specification for linear digital-to-analogue converters (DAC)
(Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Partie 4: Circuits integres d´interface - Section 1: Specification particuliere cadre pour les convertisseurs lineaires numeriques-analogiques)

Norma vydána dne 11.11.1993

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
5 191.10


SKLADEM
IEC 60748-4-2-ed.1.0

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4: Interface integrated circuits - Section 2: Blank detail specification for linear analogue-to-digital converters (ADC)
(Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Partie 4: Circuits integres d´interface - Section 2: Specification particuliere cadre pour les convertisseurs lineaires analogiques-numeriques)

Norma vydána dne 11.11.1993

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 731.10


SKLADEM
IEC 60748-4-3-ed.1.0

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4-3: Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)

Norma vydána dne 29.8.2006

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
8 435.50


SKLADEM
IEC 60748-4-ed.2.0

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4: Interface integrated circuits
(Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Partie 4: Circuits integres d´interface)

Norma vydána dne 23.4.1997

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
15 411.10


SKLADEM
IEC 60748-5-ed.1.0

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 5: Semicustom integrated circuits
(Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Partie 5: Circuits integres semi-personnalises)

Norma vydána dne 30.5.1997

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
5 191.10


SKLADEM
IEC 60749-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 1: Generalites)

Norma vydána dne 30.8.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
648.90


SKLADEM

Zobrazen záznam od 3910 až 3920 z celkem 11466 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.