Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 60749-11-ed.1.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 11: Rychlá změna teploty - metoda Two-kapalina-lázně
NORMA vydána dne 12.4.2002
Informace o normě:
Označení normy: IEC 60749-11-ed.1.0
Datum vydání normy: 12.4.2002
Kód zboží: NS-411366
Počet stran: 13
Přibližná hmotnost: 39 g (0.09 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 60749-11-ed.1.0 :
Defines the rapid change of temperature test method and the two-fluid-bath method. This test method may also be used, employing fewer cycles, to test the effect of immersion in heated liquids that are used for the purpose of cleaning devices. This test is applicable to all semiconductor devices. It is considered destructive unless otherwise detailed in the relevant specification. The contents of the corrigenda of January 2003 and August 2003 have been included in this copy. Definit la methode dessai de variations rapides de temperature et la methode des deux bains. Cette derniere methode dessai peut egale-ment etre utilisee, en appliquant moins de cycles, pour determiner leffet de limmersion dans des liquides chauds qui est utilisee pour le nettoyage des dispositifs. Cet essai est applicable a tous les dispositifs a semiconducteurs. Il est considere comme destructif, sauf stipulation contraire dans la specification applicable. Le contenu des corrigenda de janvier 2003 et daout 2003 a ete pris en consideration dans cet exemplaire.
K této normě náleží tyto opravy:
IEC 60749-11-ed.1.0/Cor.1
Oprava
Zobrazit všechny technické informace
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de temperature - Methode des deux bains)
Oprava vydána dne 30.1.2003
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 60749-11-ed.1.0/Cor.2
Oprava
Zobrazit všechny technické informace
Corrigendum 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
(Corrigendum 2 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de temperature - Methode des deux bains)
Oprava vydána dne 13.8.2003
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Podobné normy:
20.12.1996
9.5.1997
22.12.1998
29.7.1999
30.9.1999
16.6.2000
Doporučujeme:
EviZak - všechny zákony včetně jejich evidence na jednom místě
Poskytování aktuálních informací o legislativních předpisech vyhlášených ve Sbírce zákonů od roku 1945.
Aktualizace 2x v měsíci !
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
