Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 60749-1-ed.1.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 1: Všeobecné
NORMA vydána dne 30.8.2002
Informace o normě:
Označení normy: IEC 60749-1-ed.1.0
Datum vydání normy: 30.8.2002
Kód zboží: NS-411361
Počet stran: 15
Přibližná hmotnost: 45 g (0.10 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 60749-1-ed.1.0 :
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) and establishes provisions common to all the other parts of the series. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy. Applicable aux dispositifs a semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits integres)et etablit des dispositions communes a toutes les autres parties de la serie. Le contenu du corrigendum daout 2003 a ete pris en consideration dans cet exemplaire.
K této normě náleží tyto opravy:
IEC 60749-1-ed.1.0/Cor.1
Oprava
Zobrazit všechny technické informace
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 1: Generalites)
Oprava vydána dne 12.8.2003
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
