IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 132

Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 132

IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy IEC - strana 132" dle:    


IEC 60191-6-1-ed.1.0

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-1: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for gull-wing lead terminals

Norma vydána dne 30.10.2001

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
627.20


SKLADEM
IEC 60191-6-10-ed.1.0

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-10: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Dimensions of P-VSON
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-10: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des dispositifs a semiconducteurs pour montage en surface - Dimensions des boitiers P-VSON)

Norma vydána dne 19.11.2003

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 508.80


SKLADEM
IEC 60191-6-12-ed.2.0

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-12: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guidelines for fine-pitch land grid array (FLGA)
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-12: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des boitiers des dispositifs a semiconducteurs a montage en surface - Lignes directrices de conception pour les boitiers matriciels a plots et a pas fins (FLGA))

Norma vydána dne 8.6.2011

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 606.40


SKLADEM
IEC 60191-6-13-ed.2.0

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-13: Design guideline of open-top-type sockets for Fine-pitch Ball Grid Array (FBGA) and Fine-pitch Land Grid Array (FLGA)
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-13: Guide de conception pour les supports sans couvercle pour les boitiers matriciels a billes et a pas fins (FBGA) et les boitiers matriciels a zone de contact plate et a pas fins (FLGA))

Norma vydána dne 27.9.2016

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 606.40


SKLADEM
IEC 60191-6-16-ed.1.0

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-16: Glossary of semiconductor tests and burn-in sockets for BGA, LGA, FBGA and FLGA
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-16: Glossaire des supports de test et de deverminage pour les BGA, LGA, FBGA et FLGA)

Norma vydána dne 26.4.2007

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 254.40


SKLADEM
IEC 60191-6-17-ed.1.0

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-17: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for stacked packages - Fine-pitch ball grid array and fine-pitch land grid array (P-PFBGA and P-PFLGA)
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-17: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des dispositifs a semiconducteurs a montage en surface - Guide de conception pour les boitiers empiles - Boitiers matriciels a billes et a pas fins et boitiers matriciels a zone de contact plate et a pas fins (P-PFBGA et P-PFLGA))

Norma vydána dne 27.1.2011

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
6 271.90


SKLADEM
IEC 60191-6-18-ed.1.0

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-18: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for ball grid array (BGA)
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-18: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des dispositifs a semiconducteurs pour montage en surface - Guide de conception pour les boitiers matriciels a billes (BGA))

Norma vydána dne 7.1.2010

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
3 606.40


SKLADEM
IEC 60191-6-18-ed.1.0/Cor.1 Oprava

Corrigendum 1 - Mechanical stardardization of semiconductor devices - Part 6-18: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for ball grid array (BGA)
(Corrigendum 1 - Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-18: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des dispositifs a semiconducteurs pour montage en surface - Guide de conception pour les boitiers matriciels a billes (BGA))

Oprava vydána dne 31.5.2010

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
31.40


SKLADEM
IEC 60191-6-18-ed.1.0/Cor.2 Oprava

Corrigendum 2 - Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-18: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for ball grid array (BGA)
(Corrigendum 2 - Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-18: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des dispositifs a semiconducteurs pour montage en surface - Guide de conception pour les boitiers matriciels a billes (BGA))

Oprava vydána dne 28.7.2010

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
31.40


SKLADEM
IEC 60191-6-19-ed.1.0

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-19: Measurement methods of the package warpage at elevated temperature and the maximum permissible warpage
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-19: Methodes de mesure du gauchissement des boitiers a temperature elevee et du gauchissement maximum admissible)

Norma vydána dne 25.2.2010

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 508.80


SKLADEM

Zobrazen záznam od 1310 až 1320 z celkem 11295 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.