Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Normy IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace - strana 1053
IEC - Společnost IEC je přední světová organizace, která vytváří a vydává Mezinárodní normy pro veškeré elektrické, elektronické a další související technologie, které se souhrnně nazývají "elektrotechnologie". Všude tam, kde se nachází elektřina a elektronika, najdete i společnost IEC, která prosazuje bezpečnost a výkon, životní prostředí, účinnost elektřiny a obnovitelné energie. Společnost IEC také spravuje systémy pro posuzování shody, které prokazují, že zařízení, systémy či komponenty vyhovují Mezinárodním normám této společnosti.
Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Kč
Řadit dle:
IEC/TS 63066-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Low-voltage docking connectors for removable energy storage units
Norma vydána dne 22.3.2017
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 63067-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Electrical installations for lighting and beaconing of aerodromes - Connecting devices - General requirements and tests
(Installations electriques pour l´eclairage et le balisage des aerodromes - Dispositifs de connexion - Exigences generales et essais)
Norma vydána dne 24.6.2020
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 63068-1-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects
Norma vydána dne 30.1.2019
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 63068-2-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection
Norma vydána dne 30.1.2019
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 63068-3-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence
(Dispositifs a semiconducteurs - Criteres de reconnaissance non destructifs des defauts au sein d’une plaquette homoepitaxiale de carbure de silicium pour des dispositifs d’alimentation - Partie 3 : Methode d’essai pour les defauts a l’aide de la photoluminescence)
Norma vydána dne 13.7.2020
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC 63068-4-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence
Norma vydána dne 27.7.2022
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC/TR 63069-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Industrial-process measurement, control and automation - Framework for functional safety and security
Norma vydána dne 20.5.2019
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC/TS 63070-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Ultrasonics - Field characterization - Infrared imaging techniques for determining temperature elevation in tissue-mimicking material and at the radiation surface of a transducer in still air
Norma vydána dne 15.2.2019
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC/TR 63071-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Power supplying scheme for wearable system and equipment
Norma vydána dne 14.12.2016
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
IEC/TR 63072-1-ed.1.0
Zobrazit všechny technické informace
Photonic integrated circuits - Part 1: Introduction and roadmap for standardization
Norma vydána dne 11.5.2017
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Potřebujete pomoci?
