JIS - Japonské technické normy - strana 610

Normy JIS - Japonské technické normy - strana 610

Asociace JIS se zabývá průmyslovými a minerálními produkty srovnatelnými s normami zaváděnými různými průmyslovými asociacemi za účelem řešení konkrétních problémů, či s normami, které zavádí a používají samotné společnosti (provozní příručky, produktové specifikace, atd.). Potřeba společného postupu ve společnostech jednoho průmyslového sektoru vede k zavádění společných průmyslových norem a ta samá potřeba ve smyslu většího rozšíření vedla i k zavedení asociace JIS.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "JIS - Japonské technické normy - strana 610" dle:    


JIS H0543:2014

Testing method of determining bendability for magnesium alloy sheets

Norma vydána dne 20.3.2014

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM
JIS H0544:2017

Magnesium alloys -- Flammability test method

Norma vydána dne 20.11.2017

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM
JIS H0601:1962

Testing methods of resistivity for germanium

Norma vydána dne 25.10.1962

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM
JIS H0602:1995

Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four-point probe

Norma vydána dne 30.11.1995

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM
JIS H0603:1978

Measurement of minority carrier life time in germanium by photoconductive decay method

Norma vydána dne 31.3.1978

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM
JIS H0604:1995

Measuring of minority-carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method

Norma vydána dne 31.7.1995

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM
JIS H0607:1978

Determination of conductivity type in germanium by thermoelectromotive method

Norma vydána dne 10.3.1978

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM
JIS H0609:1999

Test methods of crystalline defects in silicon by preferential etch techniques

Norma vydána dne 29.2.2000

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM
JIS H0610:1966

Method of measurement of etch pit density of germanium crystal

Norma vydána dne 31.1.1967

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM
JIS H0611:1994

Methods of measurement of thickness, thickness variation and bow for silicon wafer

Norma vydána dne 28.2.1994

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


SKLADEM

Zobrazen záznam od 6090 až 6100 z celkem 11847 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.