Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS H0611:1994
Methods of measurement of thickness, thickness variation and bow for silicon wafer
Přeložit název
NORMA vydána dne 28.2.1994
| Jazyk | |
| Provedení |
|
| Dostupnost | SKLADEM |
| Cena | NADOTAZ bez DPH |
| NA DOTAZ |
Informace o normě:
Označení normy: JIS H0611:1994
Datum vydání normy: 28.2.1994
Kód zboží: NS-1078241
Počet stran: 6
Přibližná hmotnost: 18 g (0.04 liber)
Země: Japonská technická norma
Kategorie: Technické normy JIS
Kategorie - podobné normy:
Polovodičové materiály
Ostatní neželezné kovy a jejich slitiny
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
