Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS H0609:1999
Test methods of crystalline defects in silicon by preferential etch techniques
Přeložit název
NORMA vydána dne 29.2.2000
| Jazyk | |
| Provedení |
|
| Dostupnost | SKLADEM |
| Cena | NADOTAZ bez DPH |
| NA DOTAZ |
Informace o normě:
Označení normy: JIS H0609:1999
Datum vydání normy: 29.2.2000
Kód zboží: NS-1078239
Počet stran: 17
Přibližná hmotnost: 51 g (0.11 liber)
Země: Japonská technická norma
Kategorie: Technické normy JIS
Kategorie - podobné normy:
Integrované obvody. Mikroelektronika
Ostatní neželezné kovy a jejich slitiny
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
