Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS H0602:1995
Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four-point probe
Přeložit název
NORMA vydána dne 30.11.1995
| Jazyk | |
| Provedení |
|
| Dostupnost | SKLADEM |
| Cena | NADOTAZ bez DPH |
| NA DOTAZ |
Informace o normě:
Označení normy: JIS H0602:1995
Datum vydání normy: 30.11.1995
Kód zboží: NS-1078235
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Japonská technická norma
Kategorie: Technické normy JIS
Kategorie - podobné normy:
Polovodičové materiály
Ostatní neželezné kovy a jejich slitiny
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
