Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Normy JIS - Japonské technické normy - strana 335
Asociace JIS se zabývá průmyslovými a minerálními produkty srovnatelnými s normami zaváděnými různými průmyslovými asociacemi za účelem řešení konkrétních problémů, či s normami, které zavádí a používají samotné společnosti (provozní příručky, produktové specifikace, atd.). Potřeba společného postupu ve společnostech jednoho průmyslového sektoru vede k zavádění společných průmyslových norem a ta samá potřeba ve smyslu většího rozšíření vedla i k zavedení asociace JIS.
Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Kč
Řadit dle:
JIS C5630-1:2017
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 1: Terms and definitions
Norma vydána dne 21.3.2017
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS C5630-12:2014
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
Norma vydána dne 20.2.2014
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS C5630-13:2014
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 13: Bend-and shear-type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures
Norma vydána dne 20.2.2014
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS C5630-18:2014
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 18: Bend testing methods of thin film materials
Norma vydána dne 22.12.2014
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS C5630-19:2014
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 19: Electronic compasses
Norma vydána dne 22.12.2014
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS C5630-2:2009
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 2: Tensile testing method of thin film materials
Norma vydána dne 20.3.2009
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS C5630-20:2015
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 20: Gyroscopes
Norma vydána dne 20.11.2015
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS C5630-26:2017
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures
Norma vydána dne 20.10.2017
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS C5630-28:2020
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 28: Performance testing method of vibration-driven MEMS electret energy harvesting devices
Norma vydána dne 23.3.2020
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS C5630-3:2009
Zobrazit všechny technické informace
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
Norma vydána dne 20.3.2009
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Potřebujete pomoci?
