Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS C5630-2:2009
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices-- Part 2: Tensile testing method of thin film materials
Přeložit název
NORMA vydána dne 20.3.2009
| Jazyk | |
| Provedení |
|
| Dostupnost | SKLADEM |
| Cena | NADOTAZ bez DPH |
| NA DOTAZ |
Informace o normě:
Označení normy: JIS C5630-2:2009
Datum vydání normy: 20.3.2009
Kód zboží: NS-1075556
Počet stran: 10
Přibližná hmotnost: 30 g (0.07 liber)
Země: Japonská technická norma
Kategorie: Technické normy JIS
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
