Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures
Přeložit název
NORMA vydána dne 20.10.2017
| Jazyk | |
| Provedení |
|
| Dostupnost | SKLADEM |
| Cena | NADOTAZ bez DPH |
| NA DOTAZ |
Označení normy: JIS C5630-26:2017
Datum vydání normy: 20.10.2017
Kód zboží: NS-1075558
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Japonská technická norma
Kategorie: Technické normy JIS
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 17.04.2026 (Počet položek: 2 274 270)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.