Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS C5630-18:2014
Semiconductor devices -- Micro-electromechanical devices -- Part 18: Bend testing methods of thin film materials
Přeložit název
NORMA vydána dne 22.12.2014
| Jazyk | |
| Provedení |
|
| Dostupnost | SKLADEM |
| Cena | NADOTAZ bez DPH |
| NA DOTAZ |
Informace o normě:
Označení normy: JIS C5630-18:2014
Datum vydání normy: 22.12.2014
Kód zboží: NS-1075554
Počet stran: 12
Přibližná hmotnost: 36 g (0.08 liber)
Země: Japonská technická norma
Kategorie: Technické normy JIS
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
