Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "GB - Všechny - strana 4448" dle:    


GB/T 45710-2025

Determination of oligomers in polyethylene terephthalate fibre and chip—Advanced polymer chromatography(APC)

Norma vydána dne 30.5.2025

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
5 502.00


do 3 pracovních dnů
GB/T 45711.1-2025

Leather—Determination of tear load—Part 1: Single edge tear

Norma vydána dne 30.5.2025

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
5 401.50


SKLADEM
GB/T 45711.2-2025

Leather—Determination of tear load—Part 2Double edge tear

Norma vydána dne 30.5.2025

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
5 401.50


SKLADEM
GB/T 45713.4-2025

Electronics assembly technology—Part 4: Endurance test methods for solder joint of area array type package surface mount devices

Norma vydána dne 30.5.2025

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
19 571.00


do 3 pracovních dnů
GB/T 45714.54-2025

Printed circuit board materials—Part 5-4:Sectional specification set for conductive foils and films with or without coatings—Conductive pastes

Norma vydána dne 30.5.2025

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
11 531.50


do 3 pracovních dnů
GB/T 45715.1-2025

Multimedia systems and equipment for vehicles—Surround view system—Part 1: General

Norma vydána dne 30.5.2025

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
11 054.20


SKLADEM
GB/T 45715.2-2025

Multimedia systems and equipment for vehicles—Surround view system—Part 2: Recording methods of the surround view system

Norma vydána dne 30.5.2025

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
5 401.50


SKLADEM
GB/T 45716-2025

Semiconductor devices—Bias temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)

Norma vydána dne 30.5.2025

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
7 386.20


do 3 pracovních dnů
GB/T 45716.1-2026

Semiconductor devices—Bias-temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)—Part 1: Fast bias-temperature instability test for MOSFETs
K dispozici od: listopad 2026

Norma vydána dne 30.4.2026

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
11 154.70


do 4 pracovních dnů
GB/T 45717-2025

Information technology—Software measurement—Software quality measurement—Automated source code quality measures

Norma vydána dne 30.5.2025

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
NA DOTAZ


Není skladem

Zobrazen záznam od 44470 až 44480 z celkem 92307 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.