Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices—Bias temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)
Přeložit název
NORMA vydána dne 30.5.2025
Označení normy: GB/T 45716-2025
Datum vydání normy: 30.5.2025
Kód zboží: NS-1223627
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Poslední aktualizace: 21.06.2026 (Počet položek: 2 283 476)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.