Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices—Bias-temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)—Part 1: Fast bias-temperature instability test for MOSFETs
Přeložit název
NORMA vydána dne 30.4.2026
Označení normy: GB/T 45716.1-2026
Datum vydání normy: 30.4.2026
Kód zboží: NS-1269905
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
Poslední aktualizace: 06.11.2026 (Počet položek: 2 209 112)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.