Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC 60749-33-ed.1.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 33: Odolnost proti vlhkosti - Zrychlené nezaujaté autoklávu
NORMA vydána dne 9.3.2004
Informace o normě:
Označení normy: IEC 60749-33-ed.1.0
Datum vydání normy: 9.3.2004
Kód zboží: NS-411407
Počet stran: 17
Přibližná hmotnost: 51 g (0.11 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC 60749-33-ed.1.0 :
The unbiased autoclave test is performed to evaluate the moisture resistance integrity of non-hermetically packaged solid-state devices using moisture condensing or moisture saturated steam environments. It is a highly accelerated test which employs conditions of pressure, humidity and temperature under condensing conditions to accelerate moisture penetration through the external protective material or along the interface between the external protective material and the metallic conductors passing through it. Lessai dautoclave non polarise est realise pour evaluer lintegrite de resistance a lhumidite des dispositifs a letat solide sous boitiers non hermetiques utilisant des environnements a vapeur saturee dhumidite ou a condensation dhumidite. Il sagit dun essai a haute acceleration qui utilise des conditions de pression, dhumidite et temperature dans des conditions de condensation pour accelerer la penetration dhumidite a travers le materiau de protection exterieur ou par linterface entre le materiau de protection exterieur et les conducteurs metalliques qui le traversent.
Podobné normy:
17.12.1991
30.12.1988
15.5.1988
18.7.2006
29.9.2010
29.3.2007
Doporučujeme:
