Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
                  
        
        Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory.
          Automaticky přeložený název:
          Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 38: Metoda zkoušení četnosti občasných chyb polovodičových součástek s pamětí..        
      
NORMA vydána dne 1.10.2008
    
        Označení normy: DIN EN 60749-38:2008-10
                
                
                
               
                Datum vydání normy:  1.10.2008
                  Kód zboží:  NS-237832
          Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
        Země:          Německá technická norma
        Kategorie:  Technické normy DIN
        
                
              
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher.
  NEPLATNÁ
1.7.2012
1.1.2012
  NEPLATNÁ
1.4.2003
  NEPLATNÁ
1.12.2011
1.12.2003
1.1.2011
Poslední aktualizace: 03.11.2025 (Počet položek: 2 242 248) 
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.