Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 29: Zkouška zavření. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku)..
NORMA vydána dne 1.1.2012
Označení normy: DIN EN 60749-29:2012-01
Datum vydání normy: 1.1.2012
Kód zboží: NS-237818
Počet stran: 27
Přibližná hmotnost: 81 g (0.18 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.
1.3.2012
1.12.2011
1.2.2008
1.6.2011
1.12.2010
1.12.2010
Poslední aktualizace: 25.09.2024 (Počet položek: 2 350 354)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.