Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN EN 60749-29:2012-01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 29: Zkouška zavření. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku)..
NORMA vydána dne 1.1.2012
Informace o normě:
Označení normy: DIN EN 60749-29:2012-01
Datum vydání normy: 1.1.2012
Kód zboží: NS-237818
Počet stran: 27
Přibližná hmotnost: 81 g (0.18 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy DIN EN 60749-29:2012-01 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.
Podobné normy:
1.3.2012
1.12.2011
1.2.2008
1.6.2011
1.12.2010
1.12.2010
Doporučujeme:
Aktualizace technických norem
Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
