ASTM E2244-11

Standard Test Method for In-Plane Length Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer

Automaticky přeložený název:

Standardní zkušební metoda pro In- Plane délky Měření tenkých filmů , které odrážejí pomocí optického Interferometr



NORMA vydána dne 1.11.2011


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena2 214.70 bez DPH
2 214.70

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E2244-11
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.11.2011
Kód zboží: NS-44778
Počet stran: 11
Přibližná hmotnost: 33 g (0.07 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E2244-11 :

Keywords:

cantilevers, combined standard uncertainty, deflection measurements, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, strain gradient, test structure, ICS Number Code 37.040.20 (Photographic paper, film and plates. Cartridges)

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.