ASTM E2530-06

Standard Practice for Calibrating the Z-Magnification of an Atomic Force Microscope at Subnanometer Displacement Levels Using Si(111) Monatomic Steps (Withdrawn 2015)

Automaticky přeložený název:

Standardní praktiky pro Kalibrace Z- zvětšení s Atomic Force Microscope na subnanometrových posuvu úrovně pomocí Si ( 111 ) monoatomární Steps (Withdrawn 2015)



NORMA vydána dne 1.11.2006


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena2005.90 bez DPH
2 005.90

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E2530-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.11.2006
Kód zboží: NS-45532
Počet stran: 6
Přibližná hmotnost: 18 g (0.04 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E2530-06 :

Keywords:

atomic force microscope, atomic steps, AFM, calibration, measurement, silicon, z-magnification, ICS Number Code 19.020 (Test conditions and procedures in general), 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.