DIN - Německé národní normy - strana 16537

Normy DIN - Německé národní normy - strana 16537

DIN - je chráněné označení německých národních technických norem.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy DIN - strana 16537" dle:    


DIN IEC 60748-1:1988-01 NEPLATNÁ

Semiconductor devices; integrated circuits; part 1: general; identical with IEC 60748-1, edition 1984.

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1988

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 530.80


SKLADEM
E DIN IEC 60748-2-20:2006-12 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-20: Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits.

NEPLATNÁ vydána dne 1.12.2006

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 378.90


do 7 pracovních dnů
DIN IEC 60748-2:1990-11 NEPLATNÁ

Semiconductor devices; integrate circuits; part 2: digital integrated circuits; identical with IEC 60748-2:1985.

NEPLATNÁ vydána dne 1.11.1990

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
4 737.10


SKLADEM
DIN IEC 60748-20:1990-10 NEPLATNÁ

Semiconductor devices; integrated circuits; part 20: generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits; identical with IEC 60748-20:1988.

NEPLATNÁ vydána dne 1.10.1990

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 046.40


SKLADEM
DIN IEC 60748-3-1:1994-01 NEPLATNÁ

Semiconductor devices; integrated circuits; part 3: analogue integrated circuits; section one: blank detail specification for monolithic integrated operational amplifiers; identical with IEC 60748-3-1:1991.

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1994

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 530.80


SKLADEM
DIN IEC 60748-3:1993-07 NEPLATNÁ

Semiconductor devices; integrated circuits; part 3: analogue integrated circuits; identical with IEC 60748-3:1986.

NEPLATNÁ vydána dne 1.7.1993

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
4 056.50


SKLADEM
E DIN IEC 60748-4-3:2003-09 NEPLATNÁ

Semiconductors devices - Integrated circuits - Part 4-3: Interface integrated circuits; Dynamic criteria for Analogue-Digital Converters (ADC).

NEPLATNÁ vydána dne 1.9.2003

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 695.30


do 7 pracovních dnů
E DIN EN 60749-1:2002-06 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - General.

NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 010.90


do 7 pracovních dnů
DIN EN 60749-10:2003-04 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 10: Mechanické údery. (Text normy není součástí výtisku)..)

NEPLATNÁ vydána dne 1.4.2003

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 010.90


SKLADEM
E DIN EN IEC 60749-10:2023-06 NEPLATNÁ

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly.

NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2023

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
2 046.40


do 7 pracovních dnů

Zobrazen záznam od 165360 až 165370 z celkem 198116 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.