Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
General requirements for arc fault detection devices
(Exigences generales des dispositifs pour la detection de defaut d´arcs)
Norma vydána dne 9.7.2013
Vybrané provedení:
Amendment 1 - General requirements for arc fault detection devices
(Amendement 1 - Exigences generales des dispositifs pour la detection de defauts d´arc)
Změna vydána dne 9.2.2017
Vybrané provedení:
Amendment 2 - General requirements for arc fault detection and protection devices (AFDDs)
(Amendement 2 - Exigences generales des dispositifs pour la detection et la protection de defaut d´arcs (DPDA))
Změna vydána dne 17.11.2022
Vybrané provedení:
Corrigendum 1 - Amendment 2 - General requirements for arc fault detection and protection devices (AFDDs)
(Corrigendum 1 - Amendement 2 - Exigences generales des dispositifs pour la detection et la protection de defaut d´arcs (DPDA))
Oprava vydána dne 24.3.2023
Vybrané provedení:
Corrigendum 1 - General requirements for arc fault detection devices
(Corrigendum 1 - Exigences generales des dispositifs pour la detection de defaut d´arcs)
Oprava vydána dne 27.11.2013
Vybrané provedení:
General requirements for arc fault detection devices
(Exigences generales des dispositifs pour la detection de defauts d´arc)
Norma vydána dne 9.2.2017
Vybrané provedení:
General requirements for arc fault detection and protection devices (AFDDs)
(Exigences generales des dispositifs pour la detection et la protection de defaut d´arcs (DPDA))
Norma vydána dne 17.11.2022
Vybrané provedení:Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 11-1: Electromagnetic compatibility - Shielding effectiveness of nanomaterials: near-field probe method
Norma vydána dne 13.8.2025
Vybrané provedení:Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 12-3: 2D material-related products - Schottky barrier heights of 2D material-based field-effect transistors: temperature-dependent current–voltage measurements
Norma vydána dne 9.6.2026
Vybrané provedení:Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 2-1: Carbon nanotube materials - Film resistance
Norma vydána dne 29.5.2012
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 31.07.2026 (Počet položek: 2 290 450)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.