IEC/TS 62607-6-16-ed.1.0

Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-16: Two-dimensional materials - Carrier concentration: Field effect transistor method

Přeložit název

NORMA vydána dne 17.11.2022

Jazyk
Provedení	Elektronické PDF - 4 620.40 Kč Tištěné - 4 620.40 Kč CD-ROM - 4 658.90 Kč
Dostupnost	SKLADEM
Cena	4 620.40 Kč bez DPH
4 620.40 Kč

Informace o normě:

Označení normy: IEC/TS 62607-6-16-ed.1.0
Datum vydání normy: 17.11.2022
Kód zboží: NS-1092139
Počet stran: 23
Přibližná hmotnost: 69 g (0.15 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Kategorie - podobné normy:

Fyzika. Chemie

Anotace textu normy IEC/TS 62607-6-16-ed.1.0 :

IEC TS 62607:2022 establishes a standardized method to determine the key control characteristic

carrier concentration

for semiconducting two-dimensional materials by the

field effect transistor (FET) method.

For semiconducting two-dimensional materials, the carrier concentration is evaluated using a field effect transistor (FET) test by a measurement of the voltage shift obtained from transfer curve upon doping process. The FET test structure consists of three terminals of source, drain, and gate where voltage is applied to induce the transistor action. Transfer curves are obtained by measuring drain current while applying varied gate voltage and constant drain voltage with respect to the source which is grounded.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.

IEC/TS 62607-6-16-ed.1.0

Informace o normě:

Kategorie - podobné normy:

Anotace textu normy IEC/TS 62607-6-16-ed.1.0 :

Doporučujeme: