Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
IEC/TS 62607-6-14-ed.1.0
Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-14: Graphene-based material - Defect level: Raman spectroscopy
Přeložit název
NORMA vydána dne 27.10.2020
Informace o normě:
Označení normy: IEC/TS 62607-6-14-ed.1.0
Datum vydání normy: 27.10.2020
Kód zboží: NS-1008659
Počet stran: 28
Přibližná hmotnost: 84 g (0.19 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy IEC/TS 62607-6-14-ed.1.0 :
IEC TS 62607-6-14:2020 establishes a standardized method to determine the structural key control characteristic • defect level for powders consisting of graphene-based material by • Raman spectroscopy. The defect level is derived by the intensity ratio of the D+D band and 2D band in Raman spectrum, ID+D/I2D. • The defect level determined in accordance with this document will be listed as a key control characteristic in the blank detail specification for graphene IEC 62565-3-1 for graphene powder. • The method is applicable for graphene powder or graphene-based material, e.g. reduced graphene oxide (rGO), bilayer graphene, trilayer graphene and few-layer graphene. • Typical application areas are quality control and classification for graphene manufacturers, and product selection for downstream users. • The method described in this document is appropriate if the physical form of graphene is powder.
Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:
Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.
