Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Normy JIS - Japonské technické normy - strana 660
Asociace JIS se zabývá průmyslovými a minerálními produkty srovnatelnými s normami zaváděnými různými průmyslovými asociacemi za účelem řešení konkrétních problémů, či s normami, které zavádí a používají samotné společnosti (provozní příručky, produktové specifikace, atd.). Potřeba společného postupu ve společnostech jednoho průmyslového sektoru vede k zavádění společných průmyslových norem a ta samá potřeba ve smyslu většího rozšíření vedla i k zavedení asociace JIS.
Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Kč
Řadit dle:
JIS K0159:2021
Zobrazit všechny technické informace
Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems
Norma vydána dne 22.11.2021
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS K0160:2026
Zobrazit všechny technické informace
Surface chemical analysis-Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Norma vydána dne 20.1.2026
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS K0161:2010
Zobrazit všechny technické informace
Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters
Norma vydána dne 20.4.2010
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS K0162:2010
Zobrazit všechny technické informace
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters
Norma vydána dne 20.4.2010
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS K0163:2010
Zobrazit všechny technické informace
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
Norma vydána dne 20.4.2010
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS K0164:2023
Zobrazit všechny technické informace
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth profiling of boron in silicon
Norma vydána dne 20.2.2023
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS K0165:2011
Zobrazit všechny technické informace
Surface chemical analysis -- Medium-resolution Auger electron spectrometers -- Calibration of energy scales for elemental analysis
Norma vydána dne 20.5.2011
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS K0166:2011
Zobrazit všechny technické informace
Surface chemical analysis -- High-resolution Auger electron spectrometers -- Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis
Norma vydána dne 20.5.2011
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS K0167:2011
Zobrazit všechny technické informace
Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy -- Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
Norma vydána dne 22.3.2011
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
JIS K0168:2011
Zobrazit všechny technické informace
Surface chemical analysis -- Information format for static secondary-ion mass spectrometry
Norma vydána dne 22.3.2011
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Potřebujete pomoci?
