Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS K0164:2023
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth profiling of boron in silicon
Přeložit název
NORMA vydána dne 20.2.2023
| Jazyk | |
| Provedení |
|
| Dostupnost | SKLADEM |
| Cena | NADOTAZ bez DPH |
| NA DOTAZ |
Informace o normě:
Označení normy: JIS K0164:2023
Datum vydání normy: 20.2.2023
Kód zboží: NS-1139233
Počet stran: 12
Přibližná hmotnost: 36 g (0.08 liber)
Země: Japonská technická norma
Kategorie: Technické normy JIS
Kategorie - podobné normy:
Doporučujeme:
