Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 8Passive electronic devices
K dispozici od: září 2026
Norma vydána dne 27.2.2026
Vybrané provedení:
Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 9Special cases
K dispozici od: listopad 2026
Norma vydána dne 30.4.2026
Vybrané provedení:Remote operation and maintenance of computer numerical control (CNC) machine tools—Part 1: General requirements
Norma vydána dne 6.8.2023
Vybrané provedení:Remote operation and maintenance of computer numerical controlCNC machine tools—Part 2: Fault diagnose and predictive maintenance
Norma vydána dne 26.10.2024
Vybrané provedení:Guideline for financial cybersecurity threat information sharing
Norma vydána dne 6.8.2023
Vybrané provedení:
Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
K dispozici od: únor 2027
Norma vydána dne 30.7.2026
Vybrané provedení:Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 19: Electronic compasses
Norma vydána dne 6.8.2023
Vybrané provedení:
Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 2: Tensile testing method of thin film materials
K dispozici od: listopad 2026
Norma vydána dne 30.4.2026
Vybrané provedení:
Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 21: Test method for Poisson""s ratio of thin film MEMS materials
K dispozici od: únor 2027
Norma vydána dne 30.7.2026
Vybrané provedení:
Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates
K dispozici od: únor 2027
Norma vydána dne 30.7.2026
Vybrané provedení:Poslední aktualizace: 21.08.2026 (Počet položek: 2 298 377)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.