Norma GB/T 42709.12-2026 30.7.2026 náhled

GB/T 42709.12-2026

Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures

Přeložit název

NORMA vydána dne 30.7.2026


Jazyk
Provedení
Dostupnostdo 5 pracovních dnů
Cena15025.50 Kč bez DPH
15 025.50 Kč

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 42709.12-2026
Poznámka: K dispozici od: únor 2027
Datum vydání normy: 30.7.2026
Kód zboží: NS-1281376
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB

Kategorie - podobné normy:

Integrované obvody. Mikroelektronika

Odebírejte informace o nově vydaných normách ZDARMA:

Chcete pravidelně odebírat informace o nově vycházejících normách z celého světa a to zcela zdarma?
Přihlašte se k odběru. Vše je velice jednoduché a absolutně ZDARMA.
Na výběr máte vydavatele z celého světa.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.