ASTM - Americké technické normy - strana 8672

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8672

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy ASTM - strana 8672" dle:    


ASTM F416-94 Historická

Test Method for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers (Withdrawn 1998)

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 982.60


do 1 pracovních dnů
ASTM F417-78(1996) Historická

Test Method for Flexural Strength (Modulus of Rupture) of Electronic-Grade Ceramics (Withdrawn 2001)

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1996

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 590.20


SKLADEM
ASTM F418-77(1996)e1 Historická

Standard Practice for Preparation of Samples of the Constant Composition Region of Epitaxial Gallium Arsenide Phosphide for Hall Effect Measurements (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

NEPLATNÁ vydána dne 27.5.1977

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 590.20


SKLADEM
ASTM F418-77(2002) Historická

Standard Practice for Preparation of Samples of the Constant Composition Region of Epitaxial Gallium Arsenide Phosphide for Hall Effect Measurements (Withdrawn 2008)

NEPLATNÁ vydána dne 27.5.1977

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 590.20


SKLADEM
ASTM F419-94 Historická

Test Method for Determining Carrier Density in Silicon Epitaxial Layers by Capacitance-Voltage Measurements on Fabricated Junction or Schottky Diodes (Withdrawn 2001)

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1994

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 982.60


SKLADEM
ASTM F42-02 Historická

Standard Test Methods for Conductivity Type of Extrinsic Semiconducting Materials (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 776.10


SKLADEM
ASTM F42-93(1997) Historická

Standard Test Methods for Conductivity Type of Extrinsic Semiconducting Materials

NEPLATNÁ vydána dne 10.12.1997

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 776.10


SKLADEM
ASTM F420-04 Historická

Standard Test Method for Access Depth Under Furniture of Vacuum Cleaners

NEPLATNÁ vydána dne 1.8.2004

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 590.20


SKLADEM
ASTM F420-04(2009) Historická

Standard Test Method for Access Depth Under Furniture of Vacuum Cleaners

NEPLATNÁ vydána dne 1.2.2009

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 590.20


SKLADEM
ASTM F420-04(2014) Historická

Standard Test Method for Access Depth Under Furniture of Vacuum Cleaners

NEPLATNÁ vydána dne 1.11.2014

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 590.20


SKLADEM

Zobrazen záznam od 86710 až 86720 z celkem 90267 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.