ASTM - Americké technické normy - strana 8671

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8671

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy ASTM - strana 8671" dle:    


ASTM F521-16 Historická

Standard Test Methods for Bond Integrity of Transparent Laminates

NEPLATNÁ vydána dne 1.4.2016

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 728.00


SKLADEM
ASTM F521-83(1997)e1 Historická

Standard Test Methods for Bond Integrity of Transparent Laminates (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1997

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 728.00


SKLADEM
ASTM F521-83(2004) Historická

Standard Test Methods for Bond Integrity of Transparent Laminates

NEPLATNÁ vydána dne 1.10.2004

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 728.00


SKLADEM
ASTM F521-83(2010) Historická

Standard Test Methods for Bond Integrity of Transparent Laminates

NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2010

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 728.00


SKLADEM
ASTM F522-94 Historická

Test Method for Stacking Fault Density of Epitaxial Layers of Silicon by Interference-Contrast Microscopy (Withdrawn 1998)

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 519.80


do 1 pracovních dnů
ASTM F523-02 Historická

Standard Practice for Unaided Visual Inspection of Polished Silicon Wafer Surfaces (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 728.00


SKLADEM
ASTM F523-93(1997) Historická

Standard Practice for Unaided Visual Inspection of Polished Silicon Wafer Surfaces

NEPLATNÁ vydána dne 10.12.1997

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 728.00


SKLADEM
ASTM F524-77(1992) Historická

Test Methods for Measuring Beam Divergence of Pulsed Lasers by the Apertured-Detector Technique (Withdrawn 2001)

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1992

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 728.00


SKLADEM
ASTM F525-00a Historická

Standard Test Method for Measuring Resistivity of Silicon Wafers Using a Spreading Resistance Probe (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2000

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 894.50


SKLADEM
ASTM F526-11 Historická

Standard Test Method for Measuring Dose for Use in Linear Accelerator Pulsed Radiation Effects Tests

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2011

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 894.50


SKLADEM

Zobrazen záznam od 86700 až 86710 z celkem 89791 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.