ASTM - Americké technické normy - strana 8673

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8673

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Řadit dle:

Upřesnit výběr pro "Normy ASTM - strana 8673" dle:    


ASTM F670-02(2012) Historická

Standard Specification for Tanks, 5 and 10-Gal (20 and 40-L) Lube Oil Dispensing

NEPLATNÁ vydána dne 1.6.2012

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 528.30


SKLADEM
ASTM F670-02(2017) Historická

Standard Specification for Tanks, 5 and 10-Gal (20 and 40-L) Lube Oil Dispensing

NEPLATNÁ vydána dne 1.5.2017

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 528.30


SKLADEM
ASTM F670-87(1994)e1 Historická

Standard Specification for Tanks, 5 and 10-Gal (20 and 40-L) Lube Oil Dispensing (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1994

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 528.30


SKLADEM
ASTM F671-99 Historická

Standard Test Method for Measuring Flat Length on Wafers of Silicon and Other Electronic Materials (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydána dne 10.12.1999

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 528.30


SKLADEM
ASTM F672-01 Historická

Standard Test Method for Measuring Resistivity Profiles Perpendicular to the Surface of a Silicon Wafer Using a Spreading Resistance Probe (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2001

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 905.20


SKLADEM
ASTM F672-88(1995)e1 Historická

Standard Test Method for Measuring Resistivity Profiles Perpendicular to the Surface of a Silicon Wafer Using a Spreading Resistance Probe (Includes all amendments And changes 3/2/2021).

NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2001

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 905.20


SKLADEM
ASTM F673-02 Historická

Standard Test Methods for Measuring Resistivity of Semiconductor Slices or Sheet Resistance of Semiconductor Films with a Noncontact Eddy-Current Gage (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 737.70


SKLADEM
ASTM F673-90(1996)e1 Historická

Standard Test Methods for Measuring Resistivity of Semiconductor Slices or Sheet Resistance of Semiconductor Films with a Noncontact Eddy-Current Gage (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1996

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 905.20


SKLADEM
ASTM F674-92(1999) Historická

Standard Practice for Preparing Silicon for Spreading Resistance Measurements (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1999

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 528.30


SKLADEM
ASTM F675-91 Historická

Test Method for Measuring Nonequilibrium Transient Photocurrents in P-N Junctions (Withdrawn 1995)

Vybrané provedení:

Zobrazit všechny technické informace
1 737.70


SKLADEM

Zobrazen záznam od 86720 až 86730 z celkem 89244 záznamů.


Potřebujete pomoci?


Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.