(1992.60 CZK)
Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8026
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Zobrazení ceny: bez DPH
Zobrazovaná měna:
Kč
Řadit dle:
ASTM F1527-00
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Guide for Application of Silicon Standard Reference Materials and Reference Wafers for Calibration and Control of Instruments for Measuring Resistivity of Silicon
NEPLATNÁ vydána dne 10.6.2000
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1527-02
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Guide for Application of Certified Reference Materials and Reference Wafers for Calibration and Control of Instruments for Measuring Resistivity of Silicon (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.7.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1528-94(1999)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Measuring Boron Contamination in Heavily Doped N-Type Silicon Substrates by Secondary Ion Mass Spectrometry (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.1999
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1529-02
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Sheet Resistance Uniformity Evaluation by In-Line Four-Point Probe with the Dual-Configuration Procedure
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1529-97
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Sheet Resistance Uniformity Evaluation by In-Line Four-Point Probe with the Dual-Configuration Procedure (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 5.12.1997
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F153-95
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Determining the Yield of Wide Inked Computer Ribbons
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1995
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F153-95(2002)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Determining the Yield of Wide Inked Computer Ribbons
NEPLATNÁ vydána dne 10.9.1995
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F153-95(2008)
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Determining the Yield of Wide Inked Computer Ribbons (Withdrawn 2015)
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.2008
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1530-02
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Measuring Flatness, Thickness, and Thickness Variation on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydána dne 10.12.2002
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
ASTM F1530-94
Historická
Zobrazit všechny technické informace
Standard Test Method for Measuring Flatness, Thickness, and Thickness Variation on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning
NEPLATNÁ vydána dne 1.1.1994
Vybrané provedení:Zobrazit všechny technické informace
Potřebujete pomoci?
