ASTM F1259-89

Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration

Automaticky přeložený název:

Příručka pro Design Flat , přímkových Zkušební Structures pro detekci pokovování naprázdno nebo Resistance - Zvýšit selhání při Electromigration



NORMA vydána dne 1.1.1989


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1 504.20 bez DPH
1 504.20

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1259-89
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.1989
Kód zboží: NS-49660
Počet stran: 2
Přibližná hmotnost: 6 g (0.01 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F1259-89 :

Keywords:
Accelerated aging/testing-semiconductors, Defects-semiconductors, Electrical conductors-semiconductors, Electromigration, Failure end point-electronic components/devices, Metallization, Microelectronic device processing, Resistance-failure, Silicon-semiconductor applications, Straight-line testing, Test structures, Time to failure, Voltage, design of flat straight-line test structures (for detecting, metallization open-circuit/resistance to increase failure due to, electromigration), guide

Doporučujeme:

Aktualizace zákonů

Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.