Norma STN EN 62373 1.5.2007 náhled

STN EN 62373 (358794)

Skúška vplyvu teploty na stabilitu poľom riadených tranzistorov s hradlom izolovaným oxidom (MOSFET) (Norma na priame používanie ako STN).

Automaticky přeložený název:

Zkouška vlivu teploty na stabilitu polem řízených tranzistorů s hradlem izolovaným oxidem (MOSFET) (Norma k přímému použití jako ČSN).



NORMA vydána dne 1.5.2007


Jazyk
Provedení
DostupnostProdej skončil
CenaNA DOTAZ bez DPH
NA DOTAZ

Informace o normě:

Označení normy: STN EN 62373
Třídící znak: 358794
Katalogové číslo: 103447
Datum vydání normy: 1.5.2007
Kód zboží: NS-532086
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Slovenská technická norma
Kategorie: Technické normy STN

Doporučujeme obdobnou normu!

ČSN EN 62373 (01.03.2007)

Kategorie - podobné normy:

Polovodičová zařízení

Doporučujeme:

Aktualizace technických norem

Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.

Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.


Tento web používá soubory cookie. Dalším procházením tohoto webu vyjadřujete souhlas s jejich používáním. Více informací / Rozumím