Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
STN EN 62373 (358794)
Skúška vplyvu teploty na stabilitu poľom riadených tranzistorov s hradlom izolovaným oxidom (MOSFET) (Norma na priame používanie ako STN).
Automaticky přeložený název:
Zkouška vlivu teploty na stabilitu polem řízených tranzistorů s hradlem izolovaným oxidem (MOSFET) (Norma k přímému použití jako ČSN).
NORMA vydána dne 1.5.2007
| Jazyk | |
| Provedení |
|
| Dostupnost | Prodej skončil |
| Cena | NA DOTAZ bez DPH |
| NA DOTAZ |
Informace o normě:
Označení normy: STN EN 62373
Třídící znak: 358794
Katalogové číslo: 103447
Datum vydání normy: 1.5.2007
Kód zboží: NS-532086
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Slovenská technická norma
Kategorie: Technické normy STN
Doporučujeme obdobnou normu!
ČSN EN 62373 (01.03.2007)Kategorie - podobné normy:
Podobné normy:
1.1.1975
1.10.2010
1.10.2010
1.10.2010
1.11.2010
1.9.2014
Doporučujeme:
