Skúška vplyvu teploty na stabilitu poľom riadených tranzistorov s hradlom izolovaným oxidom (MOSFET) (Norma na priame používanie ako STN).
NORMA vydána dne 1.5.2007
Designation standards: STN EN 62373
Classification mark: 358794
Catalog number: 103447
Publication date standards: 1.5.2007
The number of pages: 20
Approximate weight : 60 g (0.13 lbs)
Country: Slovak technical standard
Kategorie: Technické normy STN