Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Zobrazovaná měna: Kč

Zobrazení ceny: bez DPH

IEC 62047-3-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing

Automaticky přeložený název:

Polovodičové součástky - Micro-elektromechanické zařízení - Část 3: Thin Film standardní zkušební vzorky pro zkoušky tahem

NORMA vydána dne 15.8.2006

Jazyk
Provedení	Elektronické PDF - 634.10 Kč Tištěné - 634.10 Kč CD-ROM - 673.70 Kč
Dostupnost	SKLADEM
Cena	634.10 Kč bez DPH
634.10 Kč

Informace o normě:

Označení normy: IEC 62047-3-ed.1.0
Datum vydání normy: 15.8.2006
Kód zboží: NS-414109
Počet stran: 15
Přibližná hmotnost: 45 g (0.10 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Tisk

Odeslat známému

Dotaz

Kategorie - podobné normy:

Ostatní polovodičová zařízení

Anotace textu normy IEC 62047-3-ed.1.0 :

Specifies a standard test piece, which is used to guarantee the propriety and accuracy of a tensile testing system for thin film materials with length and width under 1 mm and thickness under 10 m, which are main structural materials for microelectromechanical systems (MEMS), micromachines and similar devices. It is based on such a concept that a tensile testing system can be guaranteed in propriety and accuracy, when the measured tensile strengths of the standard test pieces, whose tensile strength is pre-determined, are within the designated range. It also specifies the test pieces to minimize characteristics deviation among the pieces. Cette norme internationale specifie une eprouvette d fessai normalisee, qui est utilisee pour garantir le bien-fonde et la precision du systeme d fessais de traction pour les materiaux en couche mince avec une longueur et une largeur inferieures a 1 mm et une epaisseur inferieure a 10 Em, et qui sont des materiaux de structure principaux pour les systemes microelectromecaniques (MEMS), les micromachines et dispositifs analogues. Cette norme internationale repose sur un concept tel qu fun systeme d fessais de traction puisse etre garanti du point de vue du bien-fonde et de la precision, lorsque les resistances a la traction mesurees des eprouvettes d fessai normalisees, dont la resistance a la traction est predeterminee, se situent dans la plage designee. Elle specifie egalement les eprouvettes d fessai pour minimiser les ecarts de caracteristiques parmi les eprouvettes.