Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
Automaticky přeložený název:
Polovodičové součástky - Micro-elektromechanické zařízení - Část 3: Thin Film standardní zkušební vzorky pro zkoušky tahem
NORMA vydána dne 15.8.2006
Označení normy: IEC 62047-3-ed.1.0
Datum vydání normy: 15.8.2006
Kód zboží: NS-414109
Počet stran: 15
Přibližná hmotnost: 45 g (0.10 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Specifies a standard test piece, which is used to guarantee the propriety and accuracy of a tensile testing system for thin film materials with length and width under 1 mm and thickness under 10 m, which are main structural materials for microelectromechanical systems (MEMS), micromachines and similar devices. It is based on such a concept that a tensile testing system can be guaranteed in propriety and accuracy, when the measured tensile strengths of the standard test pieces, whose tensile strength is pre-determined, are within the designated range. It also specifies the test pieces to minimize characteristics deviation among the pieces. Cette norme internationale specifie une eprouvette d fessai normalisee, qui est utilisee pour garantir le bien-fonde et la precision du systeme d fessais de traction pour les materiaux en couche mince avec une longueur et une largeur inferieures a 1 mm et une epaisseur inferieure a 10 Em, et qui sont des materiaux de structure principaux pour les systemes microelectromecaniques (MEMS), les micromachines et dispositifs analogues. Cette norme internationale repose sur un concept tel qu fun systeme d fessais de traction puisse etre garanti du point de vue du bien-fonde et de la precision, lorsque les resistances a la traction mesurees des eprouvettes d fessai normalisees, dont la resistance a la traction est predeterminee, se situent dans la plage designee. Elle specifie egalement les eprouvettes d fessai pour minimiser les ecarts de caracteristiques parmi les eprouvettes.
13.9.2011
28.2.2012
28.2.2012
17.7.2013
17.7.2013
15.8.2006
Poslední aktualizace: 11.09.2024 (Počet položek: 2 346 290)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.