Pozor!

Ve Vašem prohlížeči není aktuálně povoleno spouštění Javascriptu. Je možné, že některé funkce nebudou fungovat správně. Pro plnou funkčnost internetového obchodu doporučujeme povolit Javascript. Zde jsou instrukce jak povolit JavaScript ve Vašem webovém prohlížeči.

Zobrazovaná měna: Kč

Zobrazení ceny: bez DPH

DIN EN 62373:2007-01

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).

Automaticky přeložený název:

Zkouška stability tranzistorů MOSFET při namáhání napětím a teplotou..

NORMA vydána dne 1.1.2007

Jazyk
Provedení	PDF - okamžité stažení - 1 653.20 Kč Tištěné - 2 004.90 Kč CD-ROM - 1 690.80 Kč
Dostupnost	SKLADEM
Cena	1 653.20 Kč bez DPH
1 653.20 Kč

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 62373:2007-01
Datum vydání normy: 1.1.2007
Kód zboží: NS-239812
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Tisk

Odeslat známému

Dotaz

Kategorie - podobné normy:

Tranzistory

Anotace textu normy DIN EN 62373:2007-01 :

Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET).

Podobné normy:

1.7.1998

1.12.1997

1.3.2007

1.12.2010

1.12.2010

1.11.2000

Doporučujeme:

EviNor - Řízení a aktualizace českých norem

Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.