ČSN EN 120003
STN EN 150003
Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
DIN EN 62373:2007-01
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).
Automaticky přeložený název:
Zkouška stability tranzistorů MOSFET při namáhání napětím a teplotou..
NORMA vydána dne 1.1.2007
Informace o normě:
Označení normy: DIN EN 62373:2007-01
Datum vydání normy: 1.1.2007
Kód zboží: NS-239812
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN
Kategorie - podobné normy:
Anotace textu normy DIN EN 62373:2007-01 :
Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET).
Podobné normy:
NEPLATNÁ
1.7.1998
NEPLATNÁ
1.12.1997
1.3.2007
1.12.2010
1.12.2010
1.11.2000
Doporučujeme:
Aktualizace zákonů
Chcete mít jistotu o platnosti užívaných předpisů?
Nabízíme Vám řešení, abyste mohli používat stále platné (aktuální) legislativní předpisy.
Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.
