DIN EN 62373:2007-01

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).

NORMA vydána dne 1.1.2007

Německy -
PDF - okamžité stažení (1628.50 CZK)

Německy -

Tištěné (1975.00 CZK)

Německy -

CD-ROM (1665.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 62373:2007-01
Datum vydání normy: 1.1.2007
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 62373:2007-01 :

Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET).