Norma DIN EN 62047-21:2015-04 1.4.2015 náhled

DIN EN 62047-21:2015-04

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson´s ratio of thin film MEMS materials.

Automaticky přeložený název:

Polovodičové součástky - Micro-elektromechanické zařízení - Část 21: Zkušební metoda pro Poissonovo poměr tenkého filmu MEMS materiály.



NORMA vydána dne 1.4.2015


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena2 158.90 bez DPH
2 158.90

Informace o normě:

Označení normy: DIN EN 62047-21:2015-04
Datum vydání normy: 1.4.2015
Kód zboží: NS-583027
Počet stran: 16
Přibližná hmotnost: 48 g (0.11 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN EN 62047-21:2015-04 :

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 21: Prüfverfahren zur Querkontraktionszahl von Dünnschichtwerkstoffen der Mikrosystemtechnik.

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.