ASTM F1894-98(2011)

Test Method for Quantifying Tungsten Silicide Semiconductor Process Films for Composition and Thickness (Withdrawn 2020)

Automaticky přeložený název:

Zkušební metoda pro kvantifikaci Tungsten silicidu zpracování polovodičů filmů pro složení a tloušťka



NORMA vydána dne 1.6.2011


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1798.40 bez DPH
1 798.40

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1894-98(2011)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.6.2011
Kód zboží: NS-51998
Počet stran: 7
Přibližná hmotnost: 21 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Kategorie - podobné normy:

Polovodičové materiály

Anotace textu normy ASTM F1894-98(2011) :

Keywords:

analysis of tungsten silicide, backscattering analysis, composition, metallization films, quantitative analysis, RBS, WSix, Backscattering analysis, Composition analysis--semiconductor applications, Density--electronic applications, Metal electronic components/devices, Quantitative analysis/measurement, Rutherford backscattering spectrometry, Tungsten silicide (WSix), ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Doporučujeme:

Aktualizace technických norem

Chcete mít jistotu, že používáte pouze platné technické normy?
Nabízíme Vám řešení, které Vám zajistí měsíční přehled o aktuálnosti norem, které používáte.

Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.