ASTM E1438-11

Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS

Automaticky přeložený název:

Standardní Průvodce pro měření šířky rozhraní v naprašováním, hloubkové profilování pomocí SIMS



NORMA vydána dne 1.11.2011


Jazyk
Provedení
DostupnostSKLADEM
Cena1626.40 bez DPH
1 626.40

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E1438-11
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.11.2011
Kód zboží: NS-41752
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Kategorie - podobné normy:

Polovodičové materiály

Anotace textu normy ASTM E1438-11 :

Keywords:

ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Doporučujeme:

EviZak - všechny zákony včetně jejich evidence na jednom místě

Poskytování aktuálních informací o legislativních předpisech vyhlášených ve Sbírce zákonů od roku 1945.
Aktualizace 2x v měsíci !

Chcete vědět více informací? Podívejte se na tuto stránku.




Cookies Cookies

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů.