Cookies
Potřebujeme váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se vám mimo jiné mohly ukazovat informace týkající se vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM F1262M-95(2008)
Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric)
Automaticky přeložený název:
Standardní Průvodce pro přechodné Radiation Rozrušená prahové Testování číslicových integrovaných obvodů ( metrické)
NORMA vydána dne 15.6.2008
Informace o normě:
Označení normy: ASTM F1262M-95(2008)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 15.6.2008
Kód zboží: NS-49671
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Anotace textu normy ASTM F1262M-95(2008) :
Keywords:
digital integrated circuits, digital IC´s, functional errors, ionizing, pulsed radiation, radiation, transient radiation, upset threshold, Combinational logic, Destructive testing--semiconductors, Digital integrated circuits, Electrical conductors (semiconductors), Failure end point--electronic components/devices, 0Functional errors, Integrated circuits, Ionizing radiation, Irradiance/irradiation--semiconductors, 0Microelectronic devices, MSI integrated circuits, Output transient voltage
Doplňující informace
| Significance and Use | ||||||||||
|
Digital logic circuits are used in system applications where they are exposed to pulses of radiation. It is important to know the minimum radiation level at which transient failures can be induced, since this affects system operation. |
||||||||||
| 1. Scope | ||||||||||
|
1.1 This guide is to assist experimenters in measuring the transient radiation upset threshold of silicon digital integrated circuits exposed to pulses of ionizing radiation greater than 103 Gy (Si)/s. 1.2 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
||||||||||
| 2. Referenced Documents | ||||||||||
|
Doporučujeme:
